F37 薄膜分析儀

    附加檔

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    產品名稱 : 薄膜分析儀
    產品型號 : F37
    產品介紹

    多點量測系統,單一機台最多可搭配七組光譜儀

    高性價比的F37機型因配置了先進的光譜測量系統,能夠迅速快捷的應用於工業生產中在線測量膜層的厚度,及光學常數(n、k值) ,通過對待測膜層上下表面的反射光譜的分析就能夠在數秒內獲得厚度,折射率及消光係數。

    薄膜分析儀

    F37先進光譜測量系統,採用標準19英寸的機架式工業機箱,最多能配置7個獨立的光譜儀。 F37測量軟件亦可被主機通過數位化I/O軟件控制來進行測量。測量數據能夠自動輸出到主機供SPC控制。此外,為了滿足不同的測量環境需求,Filmetrics也可以提供多樣的透鏡配件及光學探頭夾具供用戶選擇使用。

    F37先進光譜測量系統

    先進光譜測量系統

    光譜測量系統